JESD22-B116: 热循环测试标准 概述 JESD22-B116是一项针对电子元器件和设备的热循环测试标准。该标准旨在评估电子元器件和设备在不同温度下的可靠性，以确定其在实际使用中的耐受性和寿命。该标准适用于各种类型的电子元器件和设备，包括芯片、半导体器件、电容器、电阻器、电感器、电缆、连接器等。 测试条件 JESD22-B116标准规定了一系列测试条件，包括温度范围、温度变化速率、测试时间等。具体而言，该标准规定了测试温度范围为-65℃至150℃，温度变化速率为5℃/min，测试时间为